制样技巧
FIB 切片
聚焦离子束FIB最重要的一个应用就是制备和转移切片从而进行TEM观测。通常使用FIB非常的耗时且容易出错。但我们的这个技术减少了时间，同时将降低了在减薄和转移切片过程中的风险。
石墨烯转移
适用纳米芯片为石墨烯特殊设计的转移方法
纳米颗粒/粉末
对于纳米颗粒和研磨过的粉末样品，只需吸取溶液直接滴在纳米芯片的微加热丝上即可
薄膜
使用薄膜溅射沉积装置，将纳米芯片放置于溅射目标的上方并且将气体通入装置。
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